X-ışını floresans spektrometresi (XRF) yıkıcı olmayan bir analiz tekniğidir. Katı, toz ve sıvı numunelerin içerdiği elemanların nitel ve nicel analizlerini yapmak için kullanılır. XRF Sodyum'dan Uranyum'a kadar olan elementlerin ppm seviyesinden %100’e kadar ölçümlerini yapılabilir. Bir X-ışını kaynağından üretilen ışın analiz edilecek maddenin yüzeyine çarptırılarak içindeki elementlere özgü bir x-ışını yayılır bu x-ışınının Ge detektör ile analizi gerçekleştirilerek analizi yapılacak örnekteki elementlerin miktarları belirlenmiş olur.
Uygulama Alanları
- Si, Al, Ti, Mn, Mg gibi ana element oksitleri yüzde (%) ağırlık cinsinden (MnO, MgO)
- Rb, Ba, Sr gibi eser elementleri
- Cr, Ni, Co, Cu ve Zn gibi geçiş elementlerini
- La, Ce, Pr, Nd gibi nadir toprak elementlerinin ppm düzeyinde analizleri
- Çevresel uygulamalar
- Jeoloji ve mineroloji
- Metalurji ve kimya endüstrisi
- Boya endüstrisi
- Değerli taşlar
- Yakıt analizi
- Gıda kimyası
- Tarım, arkeoloji ve sanat tarihi uygulamaları
