X-ışını difraksiyonu (XRD) optik mikroskobik yöntemler ile belirlenemeyecek kadar küçük tane boyutuna sahip minerallerin kristal yapı özelliklerine göre tanımlanmasında kullanılan bir tekniktir. Bu teknikte incelenecek olan numune ideal tane boyutuna gelene kadar öğütülerek toz hale getirilmekte ve XRD analiz cihazları ile analiz edilmektedir. Standart kalitatif XRD analizlerinde numuneler, Ni filtreli Cu X-ışın tüplü cihazlar ile 2 - 70 derece arasında analiz edilmekte, elde edilen X-ışın difraktogramları ASTM standartlarına göre yorumlanmaktadır. Standart XRD analizleri ile tanımlanmaları mümkün olmayan kil grubu mineralleri için zenginleştirme işlemi uygulanarak kalitatif XRD detay kil analizleri yapılmaktadır.
Uygulama Alanları
- Süper iletkenler, seramikler, metaller, alaşımlar, katı çözeltiler, heterogen katı karışımlar, korozif maddeler, çelik, kaplama malzemelerinin analizleri
- Maden analizleri
- Toprak analizleri
- Böbrek ve mesane taşları analizleri
- Boyar maddeler, pigmentler, çimentolar, doğal veya yapay minerallerin içerdiği bileşik veya elementlerin tayini
- İnorganik polimerler, faz diyagramlarının ve faz dönüşümlerinin araştırılması, bazı kristalin veya amorf kompleks bileşiklerinin incelenmesi.
