Bülent Ecevit Üniversitesi Bilim ve Teknoloji Uygulama ve Araştırma Merkezi bünyesindeki, QUANTA 450 Field Emission Gun (FEG) SEM Yüksek çözünürlüklü taramalı elektron mikroskobu, 1 nm çözünürlükte ve 1.000.000 büyütme gücüne sahiptir. Ayrıca bu cihaz ESEM ve düşük vakumda kaplama yapılmadan görüntü alabilme özelliğine sahiptir. Taramalı elektron mikroskobu yüksek büyütmelerde yüksek çözünürlüklü görüntü alma tekniğidir. Bu teknik sayesinde düşük büyütmelerden çok yüksek büyütmelere kadar morfolojik, yapısal ve elementel bilgiler alınabilmektedir. Örnek hazırlama laboratuvarında iletken olmayan örneklerin AuPd ve C kaplaması yapılabilmektedir. Yüksek ve düşük vakum koşulları altında ikincil elektron (SE), geri saçılmış elektron (BSE), VCD, ESEM, STEM veya karışık (SE+BSE) sinyal görüntüleri alınarak fotoğraflama yapılabilmektedir. Ayrıca incelenen numuneler üzerinde X-ray elementel dağılım haritalaması (X-ray mapping) ile incelenen numune üzerinde standartsız kalitatif elementel analizler (SEM-EDS) de yapılmaktadır.